CEM3000系列中圖儀器掃描電鏡設備用于對樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測和分析。無(wú)需占據大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶(hù)日常工作的桌面上，在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現所得結果。在工業(yè)領(lǐng)域展現出廣泛的應用價(jià)值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿(mǎn)足用戶(hù)對多類(lèi)型樣品的觀(guān)測需求，實(shí)現微觀(guān)的形貌和元素分析等。

CEM3000系列中圖儀器掃描電鏡設備采用鎢燈絲電子槍?zhuān)潆娮訕尠l(fā)射電流大、穩定性好，以及對真空度要求不高，使得鎢燈絲臺式掃描電鏡能夠在較短的時(shí)間內達到穩定的工作狀態(tài)并獲得清晰的圖像，從而提高了檢測效率，節省了時(shí)間成本，特別適用于需要快速獲取結果的應用場(chǎng)景，如工業(yè)生產(chǎn)中的質(zhì)量控制、快速篩選樣品等。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿(mǎn)足用戶(hù)觀(guān)測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數

滿(mǎn)足專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的調節需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶(hù)能夠根據需要設定電鏡樣品倉內真空度，進(jìn)而對不同類(lèi)型的樣品進(jìn)行觀(guān)測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實(shí)現四分窗同時(shí)掃描成像。

應用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線(xiàn)）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀(guān)結構分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫療：微流控芯片表面形貌觀(guān)測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

應用案例

金屬材料分析

花粉微觀(guān)形態(tài)

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專(zhuān)為振動(dòng)環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩定。

部分技術(shù)指標

如有疑問(wèn)或需要更多詳細信息，請隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢(xún)。