掃描電鏡是一種用于對樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測和分析的儀器。它能夠提供高分辨率的圖像，幫助科學(xué)家和工程師了解樣品的微觀(guān)結構和特性。

一、掃描電鏡的一般測量功能

1. 微觀(guān)形貌觀(guān)測

掃描電鏡可以清晰地觀(guān)察到樣品表面的微觀(guān)形貌，如顆粒的形狀、大小、分布等。它能夠分辨出納米尺度的特征，對于研究材料的微觀(guān)結構變化、表面粗糙度等方面具有重要意義。

例如在材料科學(xué)領(lǐng)域，通過(guò)掃描電鏡可以觀(guān)察到金屬材料的晶粒結構、陶瓷材料的孔隙結構以及高分子材料的相分離情況等。

2. 元素分析

一些掃描電鏡配備了能譜儀等附件，可以對樣品表面進(jìn)行元素分析。它能夠確定樣品中所含元素的種類(lèi)和相對含量，有助于了解材料的化學(xué)成分和組成。

二、CEM3000臺式掃描電鏡的特點(diǎn)

1. 緊湊的外型與良好的空間適用性

CEM3000系列臺式掃描電鏡整機經(jīng)過(guò)深入優(yōu)化，具有緊湊的外型。它無(wú)需占據大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統，甚至能夠出現在用戶(hù)日常工作的桌面上，在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現所得結果。

它還可以進(jìn)入手套箱、車(chē)廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手。這種良好的空間適用性使得它在不同的工作環(huán)境中都能方便使用。

2. 高分辨率

CEM3000系列電鏡具有出色的電子光學(xué)系統，優(yōu)于4nm的空間分辨率（SE），保證了高放大倍數下的清晰成像，能夠滿(mǎn)足納米尺度的形貌觀(guān)測需求。無(wú)論是觀(guān)察納米材料的微觀(guān)結構，還是對微小生物樣本進(jìn)行研究，都能提供清晰準確的圖像。

3. 快速抽放氣與可選配低真空系統

該系列臺式電鏡采用了快速抽放氣設計，縮短了用戶(hù)抽放氣的等待時(shí)間。同時(shí)，全系列可選配低真空系統，用戶(hù)可以任意設定電鏡工作時(shí)的倉內真空度（倉內真空度可達100Pa），以滿(mǎn)足不同類(lèi)型樣品的觀(guān)測需求。例如，對于一些易揮發(fā)或對真空環(huán)境要求不高的樣品，可以通過(guò)調節低真空系統來(lái)更好地進(jìn)行觀(guān)測。

4. 高易用性

CEM3000系列臺式掃描電鏡操作簡(jiǎn)便，具有自動(dòng)調節功能。用戶(hù)可借助自動(dòng)調節功能，無(wú)需過(guò)多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對比度）幫助用戶(hù)在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

5. 大樣品倉（CEM3000A）與高抗振防磁性能

CEM3000A在保證較小外型尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品。這對于一些需要分析大尺寸樣品或多個(gè)常規尺寸樣品的用戶(hù)來(lái)說(shuō)非常方便。

全系列電鏡均具有優(yōu)秀的抗干擾能力，特別是CEM3000B使用本公司技術(shù)，基于復合抗振手段，將掃描電鏡抗振性能提升到了新的高度。無(wú)論是在高樓的實(shí)驗室，還是有一定振動(dòng)的生產(chǎn)車(chē)間等非常規電鏡使用環(huán)境，CEM3000系列臺式電鏡都可憑借其強大的抗振性能輕松應對，大展身手。

6. 多種探頭搭配與豐富的定制功能

該系列電鏡標配高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭，并且可選配能譜儀等探頭，能夠對樣品進(jìn)行多種手段的分析。同時(shí)，根據特定行業(yè)的需求，定制了自動(dòng)化的顆粒度統計、孔隙率測量等選配功能，還可根據用戶(hù)需求提供全自動(dòng)軟件定制服務(wù)，滿(mǎn)足不同用戶(hù)的多樣化需求。

CEM3000系列臺式掃描電鏡在微觀(guān)形貌觀(guān)測和元素分析等方面具有出色的性能，同時(shí)其緊湊的外型、良好的空間適用性、高易用性等特點(diǎn)使其在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應用前景。