中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀(guān)測掃描電子顯微鏡用于對樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現出廣泛的應用價(jià)值，標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿(mǎn)足用戶(hù)對多類(lèi)型樣品的觀(guān)測需求，實(shí)現微觀(guān)的形貌和元素分析等。

CEM3000系列納米尺度觀(guān)測掃描電子顯微鏡憑借其簡(jiǎn)便的操作系統，讓復雜的掃描電鏡使用過(guò)程變得簡(jiǎn)單快捷。樣品一鍵裝入，自動(dòng)導航和一鍵出圖能力（自動(dòng)聚焦+自動(dòng)消像散+自動(dòng)亮度對比度）幫助用戶(hù)在短短幾十秒內就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿(mǎn)足用戶(hù)觀(guān)測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時(shí)間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數

滿(mǎn)足專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的調節需求；

5.高抗振防磁性能

強抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶(hù)能夠根據需要設定電鏡樣品倉內真空度，進(jìn)而對不同類(lèi)型的樣品進(jìn)行觀(guān)測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時(shí)，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實(shí)現四分窗同時(shí)掃描成像。

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無(wú)需過(guò)多人工調節。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率。

4.多探測器可實(shí)現四分窗同時(shí)掃描成像。

5.抗振性能優(yōu)異。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專(zhuān)為振動(dòng)環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩定。

應用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線(xiàn)）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀(guān)結構分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫療：微流控芯片表面形貌觀(guān)測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術(shù)指標

如有疑問(wèn)或需要更多詳細信息，請隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢(xún)。