白光干涉儀作為一種常用的光學(xué)測量?jì)x器，在材料科學(xué)領(lǐng)域中具有重要意義。首先，需要了解什么是白光干涉。

白光是由各種波長(cháng)的光混合而成的，而干涉是波動(dòng)現象中的一種，常見(jiàn)的干涉現象包括光的干涉條紋、薄膜干涉等。白光干涉就是利用白光的干涉現象來(lái)分析材料的性質(zhì)。

那么，白光干涉儀能否用于測量透明材料呢？答案是肯定的。對于透明材料來(lái)說(shuō)，其特點(diǎn)是能夠讓光線(xiàn)穿過(guò)并且不發(fā)生明顯的散射。透明材料的光學(xué)性質(zhì)主要包括透射率、折射率、反射率等。白光干涉儀可以利用透明材料的反射、透射等光學(xué)特性來(lái)實(shí)現測量。它在測量透明材料時(shí)，一般會(huì )使用分束器將光束分為兩束，一束垂直入射到待測透明材料表面上，另一束則繞過(guò)透明材料后與反射光相交，在干涉屏上產(chǎn)生干涉條紋。通過(guò)測量干涉條紋的間距及其變化，可以計算出透明材料的厚度或者折射率。

但需要注意的是，白光干涉儀測量透明材料時(shí)，要求透明材料比較薄且平整，以確保光線(xiàn)能夠穿過(guò)并且不發(fā)生明顯的散射。其次，干涉儀的分束器、反射鏡等元件需要具有較高的光學(xué)質(zhì)量，以保證光線(xiàn)的質(zhì)量和干涉的清晰度。另外，實(shí)驗環(huán)境也需要盡量減少干擾光源和背景光的干涉影響。

SuperViewW1白光干涉儀基于白光干涉原理，采用擴展型的相移算法EPSI，集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn)，單一模式即可適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類(lèi)型，讓3D測量變得簡(jiǎn)單。

在測量透明材料方面的應用非常廣泛，如：

1、在玻璃制造過(guò)程中，利用白光干涉儀可以實(shí)現對玻璃板的表面平整度和厚度的測量。

2、在光學(xué)鏡片制造中，白光干涉儀可以幫助判斷鏡片的質(zhì)量和折射率。

3、用于納米材料的研究中，通過(guò)測量透明納米薄膜的干涉條紋來(lái)獲得其厚度和折射率等信息。

白光干涉儀確實(shí)可以測量透明材料。它通過(guò)分析干涉條紋的形態(tài)和變化，可以獲得透明材料的厚度、折射率等重要參數。對于材料科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)都具有重要意義。